Zetasizer Ultra 納米粒度電位儀是用于測量顆粒與分子大小、顆粒電荷和顆粒濃度的系統，在結合了 Zetasizer Pro 和 Lab 所有特性和優點的基礎上，增加了多角度動態光散射技術(MADLS®)，是 Zetasizer Advance 系列中最智能和靈活的儀器。

這一旗艦型儀器充分利用了 ZS Xplorer 軟件的易用性、高分析速度和數據可靠性等優勢，運用多角度動態光散射技術 (MADLS®) ，提供與角度無關的高分辨率粒度測量，并且能夠測量顆粒濃度，幫助您更深入地了解樣品。

僅限 Zetasizer Ultra 紅標版本 (Red Label)

Zetasizer Ultra 納米粒度電位儀的特點和優點

Zetasizer Ultra 融合了功能強大的 DLS 與 ELS 系統，它采用了非侵入背散射 (NIBS) 和多角動態光散射 (MADLS) 技術來測量顆粒與分子大小。 NIBS 的多用性和靈敏度可適用廣泛的濃度范圍，而 MADLS 則能讓您在這些關鍵測量當中更精細地了解樣品粒度分布。

Zetasizer Ultra Red Label 的 MADLS 擴展功能可直接分析顆粒濃度。 顆粒濃度的測量適合于廣泛的材料，無需或只需很少稀釋，并且使用快捷，這一切使其成為一種理想的篩選技術。  這是 Zetasizer Ultra 的一項功能，甚至可以運用于以前非常難測量的病毒和類病毒顆粒 (VLP) 等樣品。

Zetasizer Ultra 的關鍵特性和優點包括：

用于高分辨率粒度測量且與角度無關的多角動態光散射法 (MADLS) 可以更深入地展現您的樣品粒度分布

動態光散射 (DLS)  用于測量從0.3 nm 到 15 µm 的顆粒和分子的粒度及粒度分布 （使用低容量可拋棄粒度樣品池和擴展粒度分析可以測試粒度大于10 µm ；取決于樣品和樣品制備）

電泳光散射 (ELS)  用于測量顆粒和分子的Zeta電位，以顯示樣品穩定性和/或團聚傾向性

非侵入背散射 (NIBS) 技術顯著擴大了動態范圍，即使是處理非常濃縮的樣品，也能實現高靈敏度

簡單的每峰值濃度/滴度測量（僅限紅標Red Label版本）

可拋棄型毛細管粒度測量樣品池提供了無損、低容量（ 3 L）分析，并且粒度上限范圍可達到 15 μm

具有恒流模式的M3-PALS可以在高導電介質中測量Zeta電位和電泳遷移率

以樣品為中心的ZS Xplorer軟件可以實現靈活的指導式使用，并可輕松構建復雜的模型

“自適應相關"算法能生成可靠且可重復的數據，同時計算速度超過以往的兩倍，可在減少樣品制備的情況下更快速地執行更多可重現的粒度測量，實現更具代表性的樣品視圖

通過深度學習實現的數據質量系統可以評估粒度數據質量問題，并針對如何改進結果提供明確的建議

使用靜態光散射（90°）測量分子量

軟件符合 21 CFR Part 11 法規

濾光片轉盤提供熒光濾光片以及垂直和水平偏振片，以實現分析靈活性

可選的 MPT-3 自動滴定儀可幫助研究 pH 值變化的影響

一系列可拋棄和可重復使用的樣品池可優化不同樣品體積和濃度的測量，其中包括新的低容量可拋棄粒度測量池套件，由于它可以抑制對流，所以既能進行樣品量小到 3 L 的粒度測量，也擴展了DLS 測量的粒度上限范圍。

產品參數